Dispositivo di test a strati per schede madri Mijing C25 per iPhone serie 17

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SKU: EDA0093475

€240,46

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Dispositivo di test a strati per schede madri Mijing C25 per iPhone serie 17

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1. Ridefinizione della precisione, test efficaci ed evita installazioni ripetute
2. Test senza saldatura di avvio, display, touch, fotocamera, registrazione, flash, suonerie, WiFi, Face ID, segnale e altri problemi
3. Design con foro sul retro per riservare spazio per i test
4. Sonda di test migliorata: questa volta offriamo un prodotto diverso
5. Buona conduttività, elevata stabilità e resistenza alla corrosione
6. Resistenza all'usura, elevata resistenza meccanica, elevata durezza e alta precisione
Dimensione:
Generale
Compatibile con
Apple: iPhone 17 Pro, iPhone Air, iPhone 17 Pro Max, iPhone 17, iPhone 16e
peso del pacco
Peso di ogni pacco 0.30kgs / 0.67lb
Taglia unica del prodotto 13cm * 11cm * 3cm / 5.12inch * 4.33inch * 1.18inch
Quantità di una scatola 60
Peso di una scatola 19.00kgs / 41.89lb
Dimensioni di una scatola 35cm * 32cm * 28cm / 13.78inch * 12.6inch * 11.02inch
Banco di merci 20GP: 850 Scatola * 60 Pezzo = 51000 Pezzo
40HQ: 1974 Scatola * 60 Pezzo = 118440 Pezzo