EMMC153 EMMC169 Socket test interfaccia SD per recupero dati
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EMMC153 EMMC169 Socket test interfaccia SD per recupero dati

Socket di test progettato per l'interfaccia SD, utilizzato per il recupero dati e la riparazione di telefoni cellulari tramite test di circuiti integrati IC.

  • Realizzato con rame berillio importato stampato ad alta precisione
  • Testina a forma di sonda con placcatura in oro per stabilità e durata
  • Modulo di contatto con struttura per allineamento preciso con IC PAD
  • Struttura di saldatura per contatto stabile durante i test
  • Copertura antivibrazione per facilitare il test manuale
  • Compatibile con EMMC153 e EMMC169, con frame limite IC sostituibile

EMMC153 EMMC169 Flip Shrapnel To SD Interface Test Socket Burning Socket per recupero dati Riparazione telefoni cellulari

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